Size Effects of the Critical Temperature in Ferroelectric Thin Films

HU Zhan-Ning ,V.C. Lo

理论物理通讯 ›› 2007, Vol. 48 ›› Issue (01) : 183-188.

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会计学季刊
Quarterly Journal of Accounting
主办单位：
香港中文大学会计学院
上海财经大学会计学院
南京大学商学院会计学系
ISSN： 3006-1415
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理论物理通讯 ›› 2007, Vol. 48 ›› Issue (01) : 183-188.

Size Effects of the Critical Temperature in Ferroelectric Thin Films

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